l*l
2 楼
Apple是不是每天要按时去,按时下班?
相对于MS和google来讲是不是算很大的工作强度?
有没有apple工作过的给讲讲?
相对于MS和google来讲是不是算很大的工作强度?
有没有apple工作过的给讲讲?
z*3
3 楼
请教一下各位前辈呀
现在准备把表面有污渍的金进行清洗,用红外ATR-FTIR表征
附件里的图是vapor deposited gold on silica wafer, 128scans, 4cm-1 (表面未
清洗)
波动都是在520-100,想请教一下
1.这些都是没意义的噪音么?手册上基本没有400-100的峰位,这些应该是什么?
2.如果把表面清理后,没有污染物的话,这段波动还会存在么?
3.把表面清理后,没有污染物的话,得出的红外图是不是基本是一条水平直线?
先谢谢各位前辈了。。
现在准备把表面有污渍的金进行清洗,用红外ATR-FTIR表征
附件里的图是vapor deposited gold on silica wafer, 128scans, 4cm-1 (表面未
清洗)
波动都是在520-100,想请教一下
1.这些都是没意义的噪音么?手册上基本没有400-100的峰位,这些应该是什么?
2.如果把表面清理后,没有污染物的话,这段波动还会存在么?
3.把表面清理后,没有污染物的话,得出的红外图是不是基本是一条水平直线?
先谢谢各位前辈了。。
d*z
4 楼
首先,最近比较反指,下面意见仅供参考
1)KDJ好转,但没放量
2)主力没有收筹码
3)上方套牢盘很多
中性
1)KDJ好转,但没放量
2)主力没有收筹码
3)上方套牢盘很多
中性
l*l
5 楼
谢谢!
那为什么还有人愿意去Apple而不是MS,google呢?apple有什么特别的好处吗?
那为什么还有人愿意去Apple而不是MS,google呢?apple有什么特别的好处吗?
y*3
6 楼
你这个不知道,但是Si在400一下有很多峰,要想直接用ATR-IR看金的话很困难。
x*a
8 楼
你用的啥ATR crystal? 一般的到1000以下 ATR crystal就自己吸收了,那段的谱图没
意义。
如果想测金表面是不是干净,可以试试CV,用K3FeCN6,看CV曲线的形状,有脏东西会
block表面。
意义。
如果想测金表面是不是干净,可以试试CV,用K3FeCN6,看CV曲线的形状,有脏东西会
block表面。
c*g
10 楼
红外光谱是 分子振动光谱
金属, 是离子晶体, 所以, 用红外光谱表征金属是不聪明的方法.
金属有金属的无损检测的方法, 可以用XRD的方法来无损鉴定.
根据晶型, 等等晶体学参数来鉴定.
元素分析(无损方法) 也还是X射线系列的, XRF
光电子能谱XPS等等...
【在 z***3 的大作中提到】
: 请教一下各位前辈呀
: 现在准备把表面有污渍的金进行清洗,用红外ATR-FTIR表征
: 附件里的图是vapor deposited gold on silica wafer, 128scans, 4cm-1 (表面未
: 清洗)
: 波动都是在520-100,想请教一下
: 1.这些都是没意义的噪音么?手册上基本没有400-100的峰位,这些应该是什么?
: 2.如果把表面清理后,没有污染物的话,这段波动还会存在么?
: 3.把表面清理后,没有污染物的话,得出的红外图是不是基本是一条水平直线?
: 先谢谢各位前辈了。。
金属, 是离子晶体, 所以, 用红外光谱表征金属是不聪明的方法.
金属有金属的无损检测的方法, 可以用XRD的方法来无损鉴定.
根据晶型, 等等晶体学参数来鉴定.
元素分析(无损方法) 也还是X射线系列的, XRF
光电子能谱XPS等等...
【在 z***3 的大作中提到】
: 请教一下各位前辈呀
: 现在准备把表面有污渍的金进行清洗,用红外ATR-FTIR表征
: 附件里的图是vapor deposited gold on silica wafer, 128scans, 4cm-1 (表面未
: 清洗)
: 波动都是在520-100,想请教一下
: 1.这些都是没意义的噪音么?手册上基本没有400-100的峰位,这些应该是什么?
: 2.如果把表面清理后,没有污染物的话,这段波动还会存在么?
: 3.把表面清理后,没有污染物的话,得出的红外图是不是基本是一条水平直线?
: 先谢谢各位前辈了。。
c*g
12 楼
拉曼光譜學是用來研究晶格及分子的振動模式、旋轉模式和在一系統裡的其他低頻模式
的一種分光技術。[1]拉曼散射為一非彈性散射,通常用來做激發的激光範圍為可見光
、近紅外光或者在近紫外光範圍附近。激光與系統聲子做交互作用,導致最後光子能量
增加或減少,而由這些能量的變化可得知聲子模式。這和紅外光吸收光譜的基本原理相
似,但兩者所得到的數據結果是互補的。
通常,一個樣品被一束激光照射,照射光點被透鏡所聚焦且通過分光儀分光。波長靠近
雷射的波長時為彈性雷利散射。
自發性的拉曼散射是非常微弱的,並且很難去分開強度相對於拉曼散射高的雷利散射,
使得得到的結果是光譜微弱,導致測定困難。歷史上,拉曼分光儀利用多個光柵去達到
高度的分光,去除激光,而可得到能量的微小差異。過去,光電倍增管被選擇為拉曼散
射訊號的偵測計,其需要很久的時間才能得到結果。而現今的技術,帶阻濾波器 (
notch filters) 可有效的去除激光且光譜儀或傅立葉轉換光譜儀和電荷耦合元件 (CCD
) 偵測計的進步,在科學研究中,利用拉曼光譜研究材料特性越來越廣泛。
有很多種的拉曼光譜分析,例如表面增強拉曼效應、針尖增強拉曼效應、偏極拉曼光譜
...等。
的一種分光技術。[1]拉曼散射為一非彈性散射,通常用來做激發的激光範圍為可見光
、近紅外光或者在近紫外光範圍附近。激光與系統聲子做交互作用,導致最後光子能量
增加或減少,而由這些能量的變化可得知聲子模式。這和紅外光吸收光譜的基本原理相
似,但兩者所得到的數據結果是互補的。
通常,一個樣品被一束激光照射,照射光點被透鏡所聚焦且通過分光儀分光。波長靠近
雷射的波長時為彈性雷利散射。
自發性的拉曼散射是非常微弱的,並且很難去分開強度相對於拉曼散射高的雷利散射,
使得得到的結果是光譜微弱,導致測定困難。歷史上,拉曼分光儀利用多個光柵去達到
高度的分光,去除激光,而可得到能量的微小差異。過去,光電倍增管被選擇為拉曼散
射訊號的偵測計,其需要很久的時間才能得到結果。而現今的技術,帶阻濾波器 (
notch filters) 可有效的去除激光且光譜儀或傅立葉轉換光譜儀和電荷耦合元件 (CCD
) 偵測計的進步,在科學研究中,利用拉曼光譜研究材料特性越來越廣泛。
有很多種的拉曼光譜分析,例如表面增強拉曼效應、針尖增強拉曼效應、偏極拉曼光譜
...等。
z*3
14 楼
先谢谢楼上各位的解答呀~
我也有考虑过用拉曼
可是大家有找到纯金的峰是在什么位置么?
我做过Si wafer 就有。。
我也有考虑过用拉曼
可是大家有找到纯金的峰是在什么位置么?
我做过Si wafer 就有。。
d*y
16 楼
region below 400 cm-1 is considered far IR. many FTIR does not cover that
range with the default detector (DTGS). I'm guessing the noise there is
artifact and meaningless.
if you are interested in detecting thin film of contamination, you should
consider getting IR in the reflectance absorption mode, which is sensitive
on thin layer on metal.
range with the default detector (DTGS). I'm guessing the noise there is
artifact and meaningless.
if you are interested in detecting thin film of contamination, you should
consider getting IR in the reflectance absorption mode, which is sensitive
on thin layer on metal.
x*1
19 楼
听说是个sweat shop.他们家每次业绩都beat expectation.
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