思达科技推出3D/2.5D MEMS微悬臂WAT探针卡

思达科技多年来致力在MEMS探针的技术研发，持续推出先进的测试探针卡，以满足各种行业的产业测试需求，Virgo Prima系列是专为微型化程序IC而设计，用在产线WAT(晶圆验收)/电性测试(E-tes)、在线(In-Line) / 程序(process)的参数/电性测试(E-test)，和包括HCI、TDDB、EM等等的可靠性测试。

Virgo Prima 3D/2.5D MEMS探针拥有优异的物理特性，可提高测试效率。低寄生电容和低漏电流，且在-40至200摄氏度的宽工作温度范围内，有更高的稳定性，能够提高效率且得到可靠的量测结果；擦痕小、微粒少、对准表现佳、探针标记更好等等的优点，也能够降低行业客户的测试维修成本。

思达科技执行长暨技术长刘俊良博士表示，

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