高算力芯片未来技术发展途径
来源:内容由半导体行业观察(ID:icbank)转载自公众号前瞻科技杂志,作者: 姚鹏,吴华强,等,谢谢。
面向未来高算力芯片需求,分析了国内外高算力芯片发展趋势,提出由数据互连、单位晶体管提供的算力、晶体管密度和芯片面积构成的芯片算力表达
式。介绍了未来高算力芯片发展的关键技术,并结合算力表达式论述相关技术如何发挥作用。从新材料、新器件、先进工艺、新架构、集成封装等角度出发,探讨了集成电路先进制造工艺、单片三维集成技术、领域专用架构、粗粒度可重构架构、存算一体技术、芯粒(Chiplet)技术和晶圆级集成等国内外发展现状及其对芯片算力的提升效果,并深入分析了各项技术的发展和挑战。结合中国高算力芯片现状和集成电路先进制程发展受限,提出从“架构+集成+系统”出发,探索实现高算力芯片的一体化自主可控创新路径,可以采用成熟制程,结合粗粒度可重构和存算一体新型架构,采用基于先进集成的芯粒技术实现总算力突破。
高算力芯片国内外发展态势
1.1 科技发展对芯片算力的需求爆发式增长
1.2 中国高算力芯片发展仍落后于算力产业发展
1.3 高算力芯片技术发展途径
后摩尔时代的晶体管密度提升途径
2.1 先进制造工艺带来的算力提升
图1 英伟达GPU算力与工艺制程的关系
表1 全球主要集成电路制造厂的量产工艺节点及晶体管密度
2.2 摩尔定律发展的挑战与机遇
随着集成电路工艺节点的不断进步,摩尔定律发展受到非理想物理效应和工艺成本等诸多限制,其中主要的挑战一方面在于光刻技术,另一方面在于器件的短沟道效应。
光刻是集成电路制造的核心工艺,决定了器件的空间尺度。为满足先进制程需求,将采用极紫外(Extreme Ultra-Violet, EUV)光刻机。EUV直接将光源波长从193 nm缩短至13.5 nm,通过将整个光路放置在真空环境下,把透镜组变成反射镜组等方式,减小了短波长光在光路中的损耗。采用EUV结合各种先进工艺技术,实现3 nm工艺节点没有障碍,但面临成本控制、光源波长缩短和光源稳定性问题。
短沟道效应是指随器件尺寸微缩达到物理极限,量子效应和非理想因素将逐渐显现,影响器件性能,包括阈值电压降低、漏致势垒降低、载流子表面散射和热电子效应等。增加栅控能力是抑制短沟道效应的关键,为此,集成电路制造已从平面工艺发展为鳍式场效应晶体管(Fin Field-Effect Transistor, FinFET)工艺,通过增加栅极维度改善栅控效果。随着工艺节点往3、2 nm发展,将需要全新器件结构实现更强的栅控,基于环栅场效应晶体管(Gate-All-Around Field-Effect Transistor, GAAFET)和多桥通道场效应晶体管(Multi-Bridge-Channel Field-Effect Transistor, MBCFET)器件结构的制造流程将成为主流(图2)。
图2 工艺制程发展中的不同器件结构
2.3 单片三维集成技术
图3 碳、硅和忆阻器单片三维异质集成系统
基于新型计算架构的算力提升途径
图4 传统计算芯片的架构特点
3.1 领域专用架构
3.1 领域专用架构
图5 基于忆阻器的存算一体技术原理
基于芯粒技术的晶体管数目
持续提升途径
4.1 芯粒技术及其现状
图6 芯粒系统芯片分解图
图7 冯·诺依曼架构瓶颈和“三墙”问题
4.2 芯粒支撑技术:封装与互连
图8 2.5D封装示意图
图9 3D封装示意图
4.3 芯粒技术未来发展
基于晶圆级集成技术的超高算力
实现途径
基于新材料和新器件的算力提升途径
结束语
图10 高算力芯片突破路径
全文刊载于《前瞻科技》2022年第3期"集成电路科学与工程专刊”,点击文末“阅读原文”获取全文。
作者简介
姚鹏
助理研究员
吴华强(通信作者)
教授
博士研究生导师
清华大学集成电路学院院长
国家杰出青年科学基金获得者
*免责声明:本文由作者原创。文章内容系作者个人观点,半导体行业观察转载仅为了传达一种不同的观点,不代表半导体行业观察对该观点赞同或支持,如果有任何异议,欢迎联系半导体行业观察。
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